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CVE-2018-13888

CVE.org · Publicado

Histórico de CVEsJSONInstruções para IA

Status do registro
Publicado
Ano do identificador (não é o ano de publicação)
2018
Publicação na fonte
Atualização na fonte
Importado pelo cveboard
Snapshot da fonte
cve_2026-10-24_midnight_baseline ·

Texto simples

Texto da CNA em inglês

There is potential for memory corruption in the RIL daemon due to de reference of memory outside the allocated array length in RIL in Snapdragon Auto, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Wearables in versions MDM9206, MDM9607, MDM9635M, MDM9650, MSM8909W, SD 210/SD 212/SD 205, SD 425, SD 427, SD 430, SD 435, SD 439 / SD 429, SD 450, SD 625, SD 636, SD 650/52, SD 675, SD 712 / SD 710 / SD 670, SD 820A, SD 835, SD 845 / SD 850, SD 855, SDM439, SDM630, SDM660, ZZ_QCS605.

Fatos de produtos e versões por escopo

Dados de correção desconhecidos; nenhuma versão corrigida é deduzida aqui. Dados ausentes não comprovam ausência de correção.

Exploração desconhecida; este catálogo não avalia exploração.

Snapdragon Auto, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Wearables

Fornecedor
Qualcomm, Inc.
Produto
Snapdragon Auto, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Wearables
Plataformas
Desconhecido
Status padrão
Desconhecido
Snapdragon Auto, Snapdragon Consumer IOT, Snapdragon Industrial IOT, Snapdragon Mobile, Snapdragon Wearables · Fatos de produtos e versões por escopo
Versão (version)Status (status)Esquema de versões (versionType)Fim exclusivo (lessThan)Fim inclusivo (lessThanOrEqual)Mudanças de status (at → status)
MDM9206, MDM9607, MDM9635M, MDM9650, MSM8909W, SD 210/SD 212/SD 205, SD 425, SD 427, SD 430, SD 435, SD 439 / SD 429, SD 450, SD 625, SD 636, SD 650/52, SD 675, SD 712 / SD 710 / SD 670, SD 820A, SD 835, SD 845 / SD 850, SD 855, SDM439, SDM630, SDM660, ZZ_QCS605affectedIndisponívelIndisponívelIndisponívelNenhuma listada